可以校正固件区、校正UA区,检测ID-DF/ID-68/ID-B1,关掉硬盘编辑磁带机地形图控制模块OA,编辑固件区,编辑型号规格,SN/LBA主要参数。复建正确引导控制模块及恢复出厂设置固件区,载入DIR正确引导控制模块。读写能力ROM或是从ROM复制控制模块,编辑磁道工作区域及RAM工作区域,校准固件,载入ATA到缓存文件及清除SMART。消除硬盘登陆密码。实际操作缺陷表等。适用硬盘软校准。
硬盘检修:
编辑引言
在硬盘检修中,最常碰到的是“缺陷磁道(缺陷面层)”和“缺陷扇区”。在硬盘制造商来看,“缺陷扇区”或“缺陷磁道(缺陷面层)”是因为磁介质产生基因变异,不可以合理地统计和获取数据导致的。而在电脑操作系统来看,许多要素都是会导致“坏扇区”的发生:算法设计的错乱,传输数据全过程错误,也包含磁介质的不稳定。前二者全是可以改正的,好像可以解释为“逻辑错误”;而后面一种是电脑操作系统不能避免的,因此就被了解为“物理学扇区”。
硬盘产生问题的此外要素还包含设计方案上的缺陷、固件上的缺陷、电源电路和电子元器件的缺陷,一样也会导致硬盘丧失一切正常作用。但是这种常见故障点彻底可以根据更换或修补使硬盘恢复过来。
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